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                    XRF貴金屬分析儀

                    簡要描述:XRF貴金屬分析儀由高能X射線激發原子電子層,使得原子核外電子發生躍遷,造成二次X射線能量釋放,因不同的元素釋放的能量具有不同特性,探測系統測量這些能量和數量,從而計算元素含量。

                    • 產品型號:PM-350
                    • 廠商性質:生產廠家
                    • 更新時間:2023-07-20
                    • 訪  問  量: 870

                    詳細介紹

                    XRF貴金屬分析儀原理

                    由高能X射線激發原子電子層,使得原子核外電子發生躍遷,造成二次X射線能量釋放,因不同的元素釋放的能量具有不同特性,探測系統測量這些能量和數量,從而計算元素含量。

                    主要組成部件

                    高壓-光管-探測器與前放-主放-DPP-控制模塊-通信模塊-顯示系統等

                     

                    X射線應該分析儀結構方框圖 

                     

                    XRF貴金屬分析儀優勢和特點

                    。超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面

                    。易于使用,一鍵操作,即可獲得克拉等級及組成成份的分析結果

                    。有助于識別鍍金樣件的創新型功能

                    。機身結構小巧結實,外形十分漂亮,適合放置于陳列展室

                    。按下按鈕的數秒之內,即可得到有關樣件的化學成份和克拉等級的精確結果

                    。使用PC機和軟件,可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書

                    。用戶通過攝像頭及艙內照明系統,可看到樣件測試位置,提升了用戶對測試信心

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                    性能及配置:

                    分析范圍1ppm to 100 %

                    精度RSD≤0.05% Au≥90%

                    測試樣品的物理狀態固體、粉末、液體

                    感興趣元素貴金屬Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, W, Os, Ir, etc.

                    基本金屬Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb, etc.

                    儀器環境要求

                    環境溫度15° C~30° C

                    相對濕度35%一70%

                     

                     

                    產品咨詢

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