X熒光光譜貴金屬分析儀

簡要描述:X熒光光譜貴金屬分析儀由高能X射線激發原子電子層,使得原子核外電子發生躍遷,造成二次X射線能量釋放,因不同的元素釋放的能量具有不同特性,探測系統測量這些能量和數量,從而計算元素含量。

  • 產品型號:PM-350
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2022-10-26
  • 訪  問  量: 840

詳細介紹

對貴金屬進行分析和克拉級別鑒定

目前使用XRF分析儀對貴金屬進行化學成份分析及純度成色判斷已經成為一種廣泛應用、極受歡迎,并且有國家標準的支持,且性能可靠的方法。與火花試金法和化學試劑測試法相比,使用XRF對貴金屬進行分析是一種更迅速、更經濟的多元素檢測方法。

 

JPSPEC佳譜儀器生產的PM-350X熒光光譜貴金屬分析儀為用戶提供了一種操作方便,且性價比高的檢測技術:無需將檢測工具探入到被測樣件的材料中,也不會損壞被測樣件,即可獲得樣件的合金化學成份信息,判斷出樣件的克拉等級。無論您是購買黃金等貴金屬,還是出售或生產珠寶,或是制造金屬,抑或是回收廢舊金屬,您都需要掌握一種可以極為精確地判斷克拉等級以及其它貴金屬與非貴金屬含量的快速方法,在第一時間, 以有效地控制產品質量,制定合理的價格。

PM-350分析儀可以迅速得到各種類型樣品精確的分析結果。


X熒光光譜貴金屬分析儀特點:

。機身結構小巧結實,外形十分漂亮,適合放置于陳列展室

。按下按鈕的數秒之內,即可得到有關樣件的化學成份和克拉等級的精確結果

。使用PC機和軟件,可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書

。用戶通過攝像頭及艙內照明系統,可看到樣件測試位置,提升了用戶對測試信心

。PM-350分析儀測試數據可以下載和上傳網絡,檢測結果易于查看和分享


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