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                    真空型X熒光光譜儀

                    簡要描述:EDX 8000H真空型X熒光光譜儀具有制樣簡單、分析速度快、分析含量范圍寬、重現性好、準確度高等優點,隨著 X 射線熒光光譜分析技術的不斷推廣,利用 X 射線熒光光譜儀分析儀檢測已成為很多行業質量控制的主要手段。

                    • 產品型號:EDX 8000H
                    • 廠商性質:生產廠家
                    • 更新時間:2023-07-20
                    • 訪  問  量: 840

                    詳細介紹

                    產地國產

                    EDX 8000H真空型X熒光光譜儀具有制樣簡單、分析速度快、分析含量范圍寬、重現性好、準確度高等優點,隨著 X 射線熒光光譜分析技術的不斷推廣,利用 X 射線熒光光譜儀分析儀檢測已成為很多行業質量控制的主要手段。


                    分析方法

                    有損分析光譜法:AAS、ICP、AFS 在前處理方面跟化學滴定法相差不多,都必須把樣品制成溶液,其對微量元素分析精度高,要求分析測試人員素質高專業性強、測試時間短、人為誤差少等特點。用于實驗室環境條件下。


                    EDX 8000H真空型X熒光光譜儀技術參數

                    元素分析范圍 : 鈉(Na)~ 鈾(U)

                    分析元素含量范圍 :PPM~99.99%(不同材質,分析范圍不同)

                    任意多個可選擇的分析和識別模型

                    相互獨立的基體效應校正模型

                    多變量非線性回歸程序

                    環境溫度 :15-30℃

                    同時分析元素 : 一次可同時分析幾十種元素

                    測試時間 :50-200s

                    電源 : 交流 220V±5v,建議配置交流凈化穩壓電源

                    能量分辨率 :129±5eV

                    樣品腔尺寸 :400*340*80mm

                    儀器尺寸:700*510*336mm

                    儀器重量:56kg

                    分析精度:0.05%(含量高于 96% 以上的精品,21 次測試穩定性)

                    高真空系統、高分辨率SDD硅漂移數字多道型電制冷探測器


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